DE10330811B4 - Halbleiterspeichermodul - Google Patents

Halbleiterspeichermodul Download PDF

Info

Publication number
DE10330811B4
DE10330811B4 DE10330811A DE10330811A DE10330811B4 DE 10330811 B4 DE10330811 B4 DE 10330811B4 DE 10330811 A DE10330811 A DE 10330811A DE 10330811 A DE10330811 A DE 10330811A DE 10330811 B4 DE10330811 B4 DE 10330811B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
command
data
clock
address
signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10330811A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10330811A1 (de
Inventor
Andreas Dr. Jakobs
Hermann Ruckerbauer
Maksim Kuzmenka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Polaris Innovations Ltd
Original Assignee
Qimonda AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qimonda AG filed Critical Qimonda AG
Priority to DE10330811A priority Critical patent/DE10330811B4/de
Priority to US10/886,814 priority patent/US7061784B2/en
Publication of DE10330811A1 publication Critical patent/DE10330811A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10330811B4 publication Critical patent/DE10330811B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4093Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/06Arrangements for interconnecting storage elements electrically, e.g. by wiring
    • G11C5/063Voltage and signal distribution in integrated semi-conductor memory access lines, e.g. word-line, bit-line, cross-over resistance, propagation delay
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers

Abstract

Halbleiterspeichermodul mit mindestens einem Speicherchip (1, 2, 3, ..., 8) und einem Takt-(CLK), Adress-(A) und Befehlssignale (C) zum Speicherchip (1, 2, 3, ..., 8) und Datensignale (DQ, DQS) zum/vom Speicherchip über einen modulinternen Takt-, Adress-, Befehls- und Datenbus (12) treibenden und empfangenden Pufferchip (10), der eine Schnittstelle zu einem äußeren Speicherhauptbus bildet, dadurch gekennzeichnet, dass die Datenbusleitungen (DQ, DQS) und/oder die Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adressbusleitungen (A) jeweils an ihren beiden Enden mit dem Pufferchip (10) verbunden und vom Pufferchip (10) von diesen beiden Enden treibbar sind und Steuermittel (11) vorgesehen und so eingerichtet sind, dass sie jeweils beim Schreiben und beim Lesen die Laufrichtungen der Datensignale (DQ, DQS) und der Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adresssignale (A) auf den entsprechenden Busleitungen gleichrichten.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Halbleiterspeichermodul mit mindestens einem Speicherchip und einem Takt-, Adress- und Befehlssignale zum Speicherchip und Datensignale zum/vom Speicherchip über einen modulinternen Takt-, Adress-, Befehls- und Datenbus treibenden und empfangenden Pufferchip, der eine Schnittstelle zu einem äußeren Speicherhauptbus bildet.
  • Für sehr schnelle und hochdichte Speicherarchitekturen, wie zum Beispiel DDR-III-DRAMs werden in Zukunft so genannte Pufferchips notwendig. Die beiliegende 4 veranschaulicht ein derartiges Speichersystem, bei dem die auf jeweiligen Speichermodulen 100, 200 befindlichen Pufferchips 110, 210 mit einem zu einem Speichercontroller 300 führenden Speicherhauptbus 400 in verketteter Weise verbunden sind. Auf den Pufferchips 110, 210 wird durch eine Schaltanordnung S dafür gesorgt, dass Daten nur vom jeweils angesprochenen, das heißt adressierten Speichermodul 100 bzw. 200 gelesen bzw. in das Speichermodul eingeschrieben werden. Mit den römischen Ziffern I, II, III und IV sind einzelne Speichergruppen mit jeweils mehreren in einer Reihe hintereinander liegenden Speicherchips auf den Speichermodulen 100 und 200 bezeichnet. Durch die Pufferchips 110, 210 wird der so genannte "Stub-Bus", wie er heute bei DDR- und DDR-II-Systemen verwendet wird, in eine Art hierarchisches Bussystem umgewandelt, bei dem nur noch Punkt-zu-Punkt- oder Punkt-zu-Zweipunkt-Verbindungen auftreten. Derartige Verbindungen erlauben Datentransferraten weit über ein Gbps hinaus. Eine Kaskadierung erlaubt es darüber hinaus, viele Pufferchips aneinander zu ketten und Speichersysteme mit einer sehr hohen Anzahl von Speicherchips an nur einem Speicherhauptbus 400 zu realisieren.
  • EP 1 069 509 A2 beschreibt ein Mikroprozessorspeichersystem des Standes der Technik, bei dem ein eine Schleife bildender synchroner Bus mit fester Latenzzeit zum Einsatz kommt (vgl. 3 und die zugehörige Beschreibung auf der Seite 5: „synchronous fixed latency loop bus"). Dieser Bus ist in zwei Teile mit jeweils gleicher Anzahl von Registern und gleicher Signalverzögerung eingeteilt. Der erste Busweg transportiert ein Befehls-/Schreibdaten-Wort und der zweite Busweg ein Lesedaten-Wort. Somit weist der aus dieser Druckschrift bekannte synchrone Schleifenbus zwei getrennte jeweils in einer Richtung übertragende Datenbusse für Lese- und Schreiboperationen auf. Wesentlich für die in der Druckschrift beschriebene Busschleife mit fester Latenzzeit ist, dass ein in der 4 der Druckschrift gezeigtes „data transfer bus Interface" Register enthält, so dass Adresssignale, die Schreibdatensignale und auch die Lesedatensignale von Schnittstelle zu Schnittstelle nach Art einer Eimerkette weitergereicht werden. Bei dem in dieser Druckschrift beschriebenen Speichersystem sind die beiden Busschleifen, d. h. die Befehls-/Schreibdaten-Schleife als auch die Lesedaten-Schleife nur einseitig an dem sogenannten „IMP-Nodemaster" angeschlossen, so dass ein eventuell vorhandener Pufferchip weder die Datenbusleitungen noch die Takt-, Befehls- und Adressbusleitungen wahlweise an ihren beiden Enden treiben könnte. Die schleifenförmige Führung des in dieser Druckschrift beschriebenen Busses erreicht, dass die Lesedaten in dieselbe Richtung laufen wie die entsprechenden Befehls-/Adressdaten, und durch die Register in den Schnittstellen wird die Summe der Einzelverzögerungen an den Schnittstellen jeweils für den Empfang der Befehls-/Adresssignale und die ausgegebenen Lesedaten bis diese an dem „IMP Nodemaster" ankommen, immer gleich gemacht. Dies geschieht aber nicht durch das Umschalten der Datenübertragungsrichtungen in einem Pufferchip.
  • Die beiliegende 5 zeigt als schematische Layoutansicht, wie ein Speichermodul (DIMM) mit einem Pufferchip 110 (HUB) und acht Speicherchips intern aufgebaut sein kann. Strichpunktiert gezeichnete Taktsignalleitungen und gestrichelt gezeichnete Befehls- und Adressbusleitungen (C/A) werden vom Pufferchip 110 zentral getrieben, nacheinander an die Speicherbausteine 101, 102, ... 108 (DRAMs) in einer so genannten Fly-By-Topologie geführt und am Ende durch Abschlüsse a1, a2, b1, b2 abgeschlossen, um Signalreflexionen zu vermeiden. Die durch ausgezogene Linien in 5 veranschaulichten Datenbusleitungen (DQ) der DRAMs werden getrennt als Punkt-zu-Punkt-Verbindungen mit dem Pufferchip 110 verbunden.
  • Bei den hohen Frequenzen, mit denen zukünftige Computer- und damit deren Speichersysteme betrieben werden, spielt die Laufzeit der Signale auf den oben genannten Verbindungsleitungen eine wesentliche Rolle. Für diese Laufzeit sei im Folgenden jeweils 200 ps für jede Strecke (Pufferchip zu DRAM und DRAM zu DRAM) angenommen. Vom Pufferchip 110 zum ersten DRAM (zum Beispiel 104) brauchen alle Signale (CLK, C/A, DQ, DQS) somit 200 ps, zum vierten DRAM (zum Beispiel 101) 800 ps. Da Taktsignal CLK und Befehls- und Adresssignal C/A die gleiche Laufzeit haben, können Befehle und Adressen problemlos vom Pufferchip 110 zum jeweiligen DRAM-Chip übertragen werden. Ähnliches gilt für die Übertragung von Schreibdaten (DQ, DQS) an die DRAMs. Vom Standpunkt des Gesamtsystems spielt es nur eine untergeordnete Rolle, dass der eigentliche Schreibvorgang in den DRAMs jeweils zu unterschiedlicher Zeit stattfindet.
  • Sollen Daten von den DRAMs gelesen werden, ergibt sich folgendes Problem: aufgrund der Laufzeiten der CLK-Signale und der C/A-Signale auf dem Bus empfangen die DRAM-Chips den Lesebefehl zu unterschiedlichen Zeiten. Die Differenz zwischen erstem und letztem DRAM beträgt in unserem Beispiel 600 ps. Nach einer gewissen Zeit, die für alle DRAMs als gleich angenommen sei, beginnen die DRAM-Chips ihre Daten an den Pufferchip 110 zurückzuschicken. Die Laufzeit vom DRAM-Chip zum Pufferchip hängt nun wieder von der Position des DRAM-Chips auf dem Speichermodul (DIMM) ab, wobei die Laufzeit bei dieser Anordnung für den DRAM-Chip am längsten ist, der den Befehl als letzter empfangen hatte. Daher werden die Daten zeitlich versetzt am Pufferchip 110 eintreffen und zwar jeweils um die doppelte Laufzeit vom Pufferchip 110 zum DRAM-Chip versetzt. Von den ersten zu den letzten Daten vergehen daher 1200 ps = 1,2 ns.
  • Dieser Zeitversatz in den Lesedaten beschränkt entweder die maximale Betriebsfrequenz auf Werte, die deutlich kleiner sind als 800 MHz (= 1,125 ns) oder muss durch eine komplizierte Schaltung im Pufferchip ausgeglichen werden, welche zu einer weiteren Verzögerung der Daten führen wird, da die frühesten Daten um mindestens 1,2 ns plus die Verarbeitungszeit der Ausgleichsschaltung verzögert weitergegeben werden können.
  • Der Erfindung liegt demnach die Aufgabe zugrunde, ein Speichermodul der eingangs genannten Art so zu ermöglichen, dass sich die unvermeidlichen Zeitdifferenzen für Befehls- und Adresssignale und für die Schreib/Lesedaten kompensieren.
  • Diese Aufgabe wird anspruchsgemäß gelöst. Der erfindungsgemäßen Lösung liegt das Prinzip zugrunde, beim Lesen von den DRAMs die Flugrichtung der Befehls- und Adresssignale sowie der Taktsignale zur Flugrichtung der Signale auf dem DQ-Bus gleichzurichten bzw. alternativ die Flugrichtung der DQ-Signale zur Flugrichtung der Befehls- und Adresssignale und der Taktsignale gleichzurichten. Demnach ist ein erfindungsgemäßes Halbleiterspeichermodul dadurch gekennzeichnet, dass die Datenbusleitungen und/oder die Takt-, Befehls- und Adressbusleitungen jeweils an ihren beiden Enden mit dem Pufferchip verbunden und vom Pufferchip von diesen beiden Enden treibbar sind und Steuermittel vorgesehen und so eingerichtet sind, dass sie jeweils beim Schreiben und beim Lesen die Laufrichtungen der Datensignale und der Takt-, Befehls- und Adresssignale auf den entsprechenden Busleitungen gleichrichten.
  • Wird der Pufferchip mit beiden Enden des DQ-Busses verbunden, so kann er bei einer Schreiboperation die Daten vom selben Ende her treiben, an dem auch Taktsignale und Befehls/Adresssignale getrieben werden. Auf diese Weise kommen die Daten synchron zum Taktsignal am Speicherchip an. Bei einer Leseoperation werden die Daten nun nicht mehr an diesem Ende des DQ-Busses gelesen, sondern am anderen Ende, so dass sich Takt-, Befehls-, Adress- und Lesedaten DQ in dieselbe Richtung bewegen. Da sich der Pufferchip nicht physikalisch an beiden Enden eines linearen Busses befinden kann, wird dazu der DQ-Bus zu einer Schleife auf dem Speichermodul geschlossen bzw. gefaltet.
  • Alternativ kann der Befehls/Adress-Bus an beiden Enden getrieben und der Datenbus nur einseitig angeschlossen werden. In diesem Fall werden beim Schreiben die Befehls/Adresssignale vom selben Ende wie die Datensignale auf den Datenbusleitungen getrieben, beim Lesen am anderen Ende. In beiden alternativen Fällen bewegen sich die Daten beim Schreiben wie beim Lesen in dieselbe Richtung wie die Befehls/Adresssignale. Bei einer Leseoperation wird dadurch erreicht, dass die Daten praktisch gleichzeitig am Pufferchip ankommen. Deshalb lässt sich dessen Datenempfangsstufe wesentlich einfacher aufbauen und das System bei wesentlich höheren Frequenzen betreiben.
  • Selbstverständlich ist zur Verwirklichung des erfindungsgemäßen Prinzips auch möglich, sowohl die Datensignalleitungen als auch die Takt-Befehls- und Adressleitungen an beiden Enden am Pufferchip anzuschließen.
  • Im Folgenden wird die Erfindung anhand von in der Zeichnung veranschaulichten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Die Zeichnungsfiguren zeigen im Einzelnen:
  • 1 schematisch eine Layoutansicht eines erfindungsgemäßen Halbleiterspeichermoduls mit einem Pufferchip und einem Schleifenbus über vier in einer Reihe hintereinander angeordnete Speicherchips;
  • 2A und 2B jeweils eine schematische Draufsicht und eine Schnittansicht auf ein DIMM-Halbleiterspeichermodul zur Veranschaulichung der physikalischen Realisierung des Schleifenbusses über mehrere Speicherchips auf der Vorder- und Rückseite des DIMM-Speichermoduls und mit Vias am Rand desselben;
  • 3 schematisch ein Halbleiterspeichermodul gemäß der Erfindung zur Veranschaulichung des Datenflusses über den Schleifenbus;
  • 4 die eingangs bereits erläuterte Topologie eines herkömmlichen Speichersystems mit verketteten Pufferchips und
  • 5 die ebenfalls eingangs bereits erläuterte schematische Layoutansicht eines herkömmlichen Halbleiterspeichermoduis mit einem Pufferchip und acht Speicherchips.
  • In der ein erfindungsgemäßes Halbleiterspeichermodul 100 in schematischer Layoutansicht darstellenden 1 sind von beispielsweise vier mit den Bezugszahlen 1, 2, 3 und 4 bezeichneten Speicherchips erfindungsgemäß die Datenbusleitungen DQ, DQS an beiden Enden mit einem einzelnen Pufferchip 10 verbunden. Gestrichelt angedeutet ist, dass auch die Befehls- und Adressbusleitungen C/A sowie auch die Taktleitungen CLK des modulinternen Busses 12 beidseitig am Pufferchip 10 angeschlossen sein können. Um die erfindungsgemäße Lauf- oder Flugrichtung der Datensignale DQ, DQS bezogen auf die Befehls- und Adresssignale C/A und die Taktsignale CLK festzulegen bzw. umzukehren, weist der Pufferchip 10 eine Steuereinrichtung 11 auf, die bei einer alternativen Ausführung dafür sorgt, dass sich im Fall des Datenschreibens Taktsignal CLK, Befehls- und Adresssignale C/A und Datensignale DQ, DQS in dieselbe Richtung bewegen. Das heißt, dass die im Pufferchip 10 befindliche Steuereinrichtung 11 bei der Schreiboperation dafür sorgt, dass die Datenbusleitungen DQ, DQS an dem Ende getrieben werden, das mit dem treibenden Ende der Taktbusleitungen CLK und der Befehls- und Adressbusleitungen zusammenfällt. Ferner sorgt die Steuereinrichtung 11 im Falle einer Leseoperation dafür, dass sich die Taktsignale CLK und die Befehls- und Adresssignale C/A und Datensignale DQ, DQS ebenfalls in dieselbe Richtung bewegen, das heißt, dass die Daten am Pufferchip 10 am anderen Ende der DQ-Busschleife empfangen werden. Dabei wird der zeitliche Versatz zwischen den Speicherchips beim Befehlsempfang durch die unterschiedlichen Laufzeiten der Daten längs der Schleife gerade wieder kompensiert. Das jeweils nicht getriebene Ende der Datenbusleitungen DQ, DQS wird vom Pufferchip 10 abgeschlossen, insbesondere aktiv abgeschlossen, um Signalreflexionen am Leitungsende zu vermeiden.
  • Wie schon erwähnt, können Taktleitungen CLK und Befehls- und Adressleitungen C/A ebenfalls schleifenartig zum Pufferchip 10 zurückgeführt werden. Die Datenbusleitungen DQ/DQS können alternativ auch nur einseitig an dem Pufferchip 10 angeschlossen werden, falls beide Enden der Befehls- und Adressleitungen C/A am Pufferchip 10 angeschlossen sind. In diesem Fall wird für Lesekommandos die Signallaufrichtung bzw. Flugrichtung auf den Taktleitungen CLK und den Befehls- und Ad ressleitungen C/A umgekehrt, das heißt diese werden an dem Ende getrieben, das dem DQ-Ende der Schleife gegenüberliegt.
  • Es wurde schon erwähnt, dass ein erfindungsgemäßes Halbleiterspeichermodul als DIMM-Modul realisiert sein kann und zum Beispiel 16 DRAM-Chips, insbesondere DDR-DRAM-Chips zusammen mit dem Pufferchip 10 auf dem Halbleiterspeichermodul vorgesehen sein können. 2A zeigt in schematischer Draufsicht eine Seite eines derartigen mit DRAMs und einem Pufferchip 10 bestückten DIMM-Halbleiterspeichermodul 100. In der physikalischen Realisierung werden Verbindungsleitungen vom Pufferchip 10 zunächst zu mehreren DRAMs 18 auf einer Seite des Halbleiterspeichermoduls geführt, dann mittels Vias zur anderen Seite durchkontaktiert, dort an weitere DRAM-Chips 916 angeschlossen und zum Pufferchip 10 zurückgeführt. Auf diese Weise ergibt sich für die Busleitungen eine geschlossene Schleife mit Start- und Endpunkt am Pufferchip 10. Dies ist deutlich in der Schnittdarstellung der 2B veranschaulicht.
  • Anhand der 3 ist der Datenfluss auf einem erfindungsgemäßen Halbleiterspeichermodul, insbesondere einem DIMM-Modul mit einem erfindungsgemäßen Schleifenbus veranschaulicht. Hier wird deutlich, dass mit der vorgeschlagenen Anordnung eines Halbleiterspeichermoduls 100 das eingangs genannte Problem gelöst wird, da sowohl beim Lesen als auch Schreiben von Daten sich diese immer in dieselbe Richtung wie die Kommandos bewegen. Sie kommen daher im Lesefall praktisch gleichzeitig am Pufferchip an. Mit a sind die (aktiven) Abschlüsse bezeichnet.
  • Es ist noch zu erwähnen, dass bei den in 1 und 3 veranschaulichten Halbleiterspeichermodulen der Pufferchip 10 lediglich vereinfachend U-förmig dargestellt ist, wodurch eine unübersichtliche Darstellung von Schleifen vieler paralleler Leitungen vermieden werden konnte. Außerdem ist in den
  • 1 und 3 mit der römischen Ziffer II die Verbindung zur anderen Modulseite angedeutet.
  • 100, 200
    Haibleiterspeichermodul
    10, 110, 210
    Pufferchip
    1–8, 9–16; 101–108
    DRAM-Speicherchips
    300
    Speichercontroller
    400
    Speicherhauptbus vom Speichercontroller zu den einzelnen Halbleiterspeichermodulen
    11
    Steuereinrichtung
    C/A
    Befehls- und Adressbusleitungen
    CLK
    Taktbusleitungen
    DQ/DQS
    Datenbusleitungen
    12
    modulinterner Bus
    a, a1, a2, b1, b2
    Leitungsabschlüsse
    I–IV
    Speicherbänke

Claims (7)

  1. Halbleiterspeichermodul mit mindestens einem Speicherchip (1, 2, 3, ..., 8) und einem Takt-(CLK), Adress-(A) und Befehlssignale (C) zum Speicherchip (1, 2, 3, ..., 8) und Datensignale (DQ, DQS) zum/vom Speicherchip über einen modulinternen Takt-, Adress-, Befehls- und Datenbus (12) treibenden und empfangenden Pufferchip (10), der eine Schnittstelle zu einem äußeren Speicherhauptbus bildet, dadurch gekennzeichnet, dass die Datenbusleitungen (DQ, DQS) und/oder die Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adressbusleitungen (A) jeweils an ihren beiden Enden mit dem Pufferchip (10) verbunden und vom Pufferchip (10) von diesen beiden Enden treibbar sind und Steuermittel (11) vorgesehen und so eingerichtet sind, dass sie jeweils beim Schreiben und beim Lesen die Laufrichtungen der Datensignale (DQ, DQS) und der Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adresssignale (A) auf den entsprechenden Busleitungen gleichrichten.
  2. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass nur die Datenbusleitungen (DQ, DQS) an ihren beiden Enden mit dem Pufferchip (10) verbunden sind und dieser bei einer Schreiboperation die Schreibdatensignale von dem Ende der Datenbusleitung treibt, von dem er auch die Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adresssignale (A) treibt und bei einer Leseoperation die Lesedatensignale am anderen Ende der Datenbusleitungen empfängt.
  3. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass nur die Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adressbusleitungen (A) an ihren beiden Enden mit dem Pufferchip (10) verbunden sind und dieser bei einer Schreiboperation die Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adresssignale (A) von dem Ende der Takt- (CLK), Befehls-(C) und Adressbusleitungen (A) treibt, an dem auch die Datensignale (DQ, DQS) getrieben werden und bei einer Leseoperation die Takt-(CLK), Befehls-(C) und Adresssignale (A) vom anderen Ende der entsprechenden Busleitungen treibt.
  4. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Pufferchip (10) weiterhin Abschlussmittel (a) aufweist, die einen Abschluss der Busleitungen jeweils an ihrem eingangsseitigen Ende bewirken.
  5. Halbleiterspeichermodul nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Abschlussmittel (a) aktiv steuerbar sind.
  6. Halbleiterspeichermodul nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere in einer Reihe hintereinander angeordnete Speicherchips (1, 2, 3, ..., 8) durch den modulinternen Bus (12) mit dem einen Pufferchip (10) verbunden bzw. verbindbar sind.
  7. Halbleiterspeichermodul nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Speicherchips (1, 2, 3, ..., 8) mit mehrfacher Datenrate betriebene, insbesondere DDR-DRAM-Chips sind und die Datensignale (DQ, DQS) ein Datenstrobesignal (DQS) enthalten.
DE10330811A 2003-07-08 2003-07-08 Halbleiterspeichermodul Expired - Fee Related DE10330811B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10330811A DE10330811B4 (de) 2003-07-08 2003-07-08 Halbleiterspeichermodul
US10/886,814 US7061784B2 (en) 2003-07-08 2004-07-08 Semiconductor memory module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10330811A DE10330811B4 (de) 2003-07-08 2003-07-08 Halbleiterspeichermodul

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10330811A1 DE10330811A1 (de) 2005-02-17
DE10330811B4 true DE10330811B4 (de) 2009-08-13

Family

ID=34071595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10330811A Expired - Fee Related DE10330811B4 (de) 2003-07-08 2003-07-08 Halbleiterspeichermodul

Country Status (2)

Country Link
US (1) US7061784B2 (de)
DE (1) DE10330811B4 (de)

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4159415B2 (ja) 2002-08-23 2008-10-01 エルピーダメモリ株式会社 メモリモジュール及びメモリシステム
US20060139983A1 (en) * 2004-12-23 2006-06-29 Sprietsma John T Memory module routing
US7282790B2 (en) * 2005-06-06 2007-10-16 International Business Machines Corporation Planar array contact memory cards
US7386656B2 (en) * 2006-07-31 2008-06-10 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for performing power management operations in conjunction with only a portion of a memory circuit
WO2007002324A2 (en) * 2005-06-24 2007-01-04 Metaram, Inc. An integrated memory core and memory interface circuit
US8060774B2 (en) 2005-06-24 2011-11-15 Google Inc. Memory systems and memory modules
US8796830B1 (en) 2006-09-01 2014-08-05 Google Inc. Stackable low-profile lead frame package
US8327104B2 (en) 2006-07-31 2012-12-04 Google Inc. Adjusting the timing of signals associated with a memory system
US7580312B2 (en) * 2006-07-31 2009-08-25 Metaram, Inc. Power saving system and method for use with a plurality of memory circuits
US20080028136A1 (en) 2006-07-31 2008-01-31 Schakel Keith R Method and apparatus for refresh management of memory modules
US8111566B1 (en) 2007-11-16 2012-02-07 Google, Inc. Optimal channel design for memory devices for providing a high-speed memory interface
US9507739B2 (en) 2005-06-24 2016-11-29 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US8090897B2 (en) 2006-07-31 2012-01-03 Google Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US7590796B2 (en) * 2006-07-31 2009-09-15 Metaram, Inc. System and method for power management in memory systems
US8438328B2 (en) 2008-02-21 2013-05-07 Google Inc. Emulation of abstracted DIMMs using abstracted DRAMs
US8397013B1 (en) 2006-10-05 2013-03-12 Google Inc. Hybrid memory module
US8335894B1 (en) 2008-07-25 2012-12-18 Google Inc. Configurable memory system with interface circuit
US8130560B1 (en) 2006-11-13 2012-03-06 Google Inc. Multi-rank partial width memory modules
US20080082763A1 (en) 2006-10-02 2008-04-03 Metaram, Inc. Apparatus and method for power management of memory circuits by a system or component thereof
US8041881B2 (en) * 2006-07-31 2011-10-18 Google Inc. Memory device with emulated characteristics
US8386722B1 (en) 2008-06-23 2013-02-26 Google Inc. Stacked DIMM memory interface
US8077535B2 (en) * 2006-07-31 2011-12-13 Google Inc. Memory refresh apparatus and method
US7609567B2 (en) * 2005-06-24 2009-10-27 Metaram, Inc. System and method for simulating an aspect of a memory circuit
US9542352B2 (en) 2006-02-09 2017-01-10 Google Inc. System and method for reducing command scheduling constraints of memory circuits
US8359187B2 (en) * 2005-06-24 2013-01-22 Google Inc. Simulating a different number of memory circuit devices
US7472220B2 (en) * 2006-07-31 2008-12-30 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for performing power management operations utilizing power management signals
US8055833B2 (en) 2006-10-05 2011-11-08 Google Inc. System and method for increasing capacity, performance, and flexibility of flash storage
US8244971B2 (en) 2006-07-31 2012-08-14 Google Inc. Memory circuit system and method
US8081474B1 (en) 2007-12-18 2011-12-20 Google Inc. Embossed heat spreader
US10013371B2 (en) 2005-06-24 2018-07-03 Google Llc Configurable memory circuit system and method
US7392338B2 (en) * 2006-07-31 2008-06-24 Metaram, Inc. Interface circuit system and method for autonomously performing power management operations in conjunction with a plurality of memory circuits
US9171585B2 (en) 2005-06-24 2015-10-27 Google Inc. Configurable memory circuit system and method
US8089795B2 (en) 2006-02-09 2012-01-03 Google Inc. Memory module with memory stack and interface with enhanced capabilities
DE112006002300B4 (de) 2005-09-02 2013-12-19 Google, Inc. Vorrichtung zum Stapeln von DRAMs
DE102005043547B4 (de) * 2005-09-13 2008-03-13 Qimonda Ag Speichermodul, Speichervorrichtung und Verfahren zum Betreiben einer Speichervorrichtung
US7397684B2 (en) * 2005-09-15 2008-07-08 Infineon Technologies, Ag Semiconductor memory array with serial control/address bus
US9632929B2 (en) 2006-02-09 2017-04-25 Google Inc. Translating an address associated with a command communicated between a system and memory circuits
US7724589B2 (en) * 2006-07-31 2010-05-25 Google Inc. System and method for delaying a signal communicated from a system to at least one of a plurality of memory circuits
US20080025136A1 (en) * 2006-07-31 2008-01-31 Metaram, Inc. System and method for storing at least a portion of information received in association with a first operation for use in performing a second operation
US20080028135A1 (en) * 2006-07-31 2008-01-31 Metaram, Inc. Multiple-component memory interface system and method
DE102006043634B4 (de) * 2006-09-18 2012-07-19 Qimonda Ag Halbleiterspeichermodul mit Busarchitektur
US7508723B2 (en) * 2007-05-24 2009-03-24 Entorian Technologies, Lp Buffered memory device
US8040710B2 (en) * 2007-05-31 2011-10-18 Qimonda Ag Semiconductor memory arrangement
US20090001541A1 (en) * 2007-06-29 2009-01-01 Lucent Technologies Inc. Method and apparatus for stackable modular integrated circuits
US8209479B2 (en) * 2007-07-18 2012-06-26 Google Inc. Memory circuit system and method
US8080874B1 (en) 2007-09-14 2011-12-20 Google Inc. Providing additional space between an integrated circuit and a circuit board for positioning a component therebetween
DE102008010544A1 (de) * 2008-02-22 2009-09-17 Qimonda Ag Speichermodul und Verfahren zur Speicherung digitaler Daten
WO2010144624A1 (en) 2009-06-09 2010-12-16 Google Inc. Programming of dimm termination resistance values
KR101854251B1 (ko) * 2010-11-30 2018-05-03 삼성전자주식회사 멀티 채널 반도체 메모리 장치 및 그를 구비하는 반도체 장치
US9082464B2 (en) * 2012-02-14 2015-07-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Memory module for high-speed operations
US9176154B2 (en) 2012-12-12 2015-11-03 Bio-Rad Laboratories, Inc. Calibration process and system
US8723329B1 (en) 2013-03-15 2014-05-13 Invensas Corporation In-package fly-by signaling
US20150033050A1 (en) * 2013-07-25 2015-01-29 Samsung Electronics Co., Ltd Semiconductor integrated circuit and computing device including the same
US10090236B2 (en) * 2016-01-13 2018-10-02 Advanced Micro Devices, Inc. Interposer having a pattern of sites for mounting chiplets
KR20180049386A (ko) * 2016-11-01 2018-05-11 에스케이하이닉스 주식회사 랭크 레벨에서 병렬화를 지원하는 메모리 장치 및 메모리 시스템
US11742277B2 (en) 2018-08-14 2023-08-29 Rambus Inc. Packaged integrated device having memory buffer integrated circuit asymmetrically positioned on substrate

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6142830A (en) * 1998-03-06 2000-11-07 Siemens Aktiengesellschaft Signaling improvement using extended transmission lines on high speed DIMMS
EP1069509A2 (de) * 1999-07-16 2001-01-17 Texas Instruments Incorporated Verbesserungen in oder bezüglich von Mikroprozessoren

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6125419A (en) * 1996-06-13 2000-09-26 Hitachi, Ltd. Bus system, printed circuit board, signal transmission line, series circuit and memory module
US5867448A (en) * 1997-06-11 1999-02-02 Cypress Semiconductor Corp. Buffer for memory modules with trace delay compensation
KR100326268B1 (ko) * 1998-10-28 2002-05-09 박종섭 디코딩시의동작마진확보를위한디코딩장치및그방법
US6449213B1 (en) * 2000-09-18 2002-09-10 Intel Corporation Memory interface having source-synchronous command/address signaling
US6530006B1 (en) * 2000-09-18 2003-03-04 Intel Corporation System and method for providing reliable transmission in a buffered memory system
JP4159415B2 (ja) * 2002-08-23 2008-10-01 エルピーダメモリ株式会社 メモリモジュール及びメモリシステム

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6142830A (en) * 1998-03-06 2000-11-07 Siemens Aktiengesellschaft Signaling improvement using extended transmission lines on high speed DIMMS
EP1069509A2 (de) * 1999-07-16 2001-01-17 Texas Instruments Incorporated Verbesserungen in oder bezüglich von Mikroprozessoren

Also Published As

Publication number Publication date
US20050024963A1 (en) 2005-02-03
US7061784B2 (en) 2006-06-13
DE10330811A1 (de) 2005-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10330811B4 (de) Halbleiterspeichermodul
DE10330812B4 (de) Halbleiterspeichermodul
DE10334779B4 (de) Halbleiterspeichermodul
DE102007019117B4 (de) Speichermodul
DE112005003106B4 (de) Pufferchip zum Treiben an einem Vielfachrang-Doppelreihenspeichermodul angelegter externer Eingangssignale und System mit einem Pufferchip
DE19860650B4 (de) Synchrone Halbleiter-Speichervorrichtung mit einer Chip-Satz-Speichersteuervorrichtung mit Datenausblend-Maskenfunktion
DE102006051514B4 (de) Speichermodul und Verfahren zum Betreiben eines Speichermoduls
DE10228544A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung
DE10229120B4 (de) Verfahren, Adapterkarte und Anordnung zum Einbau von Speichermodulen
DE102005013238B4 (de) Verfahren und Einrichtung zum Übertragen von Justierinformation für Datenschnittstellen-Treiber eines RAM-Bausteins
DE10210726B4 (de) Latenz-Zeitschaltung für ein S-DRAM
DE10305837B4 (de) Speichermodul mit einer Mehrzahl von integrierten Speicherbauelementen
DE102006051136A1 (de) Speichermodul-System, Adapter-Karte, und Verfahren zum Betreiben eines Speichermodul-Systems
DE10053906A1 (de) Synchrones Masken-Rom-Bauelement, das in einer fortlaufenden Leseoperation betrieben werden kann
DE102005009806A1 (de) Pufferbaustein für ein Speichermodul, Speichermodul und Speichersystem
DE102007002285A1 (de) Halbleiterspeichermodul
DE10339787A1 (de) Speichermodul und Verfahren zum Betreiben eines Speichermoduls
DE10164917B4 (de) Halbleiterspeichersystem
DE10031575B4 (de) Halbleiterspeicherbauelement
DE10332616B3 (de) Halbleiterspeichermodul
DE10033826B4 (de) Halbleiterspeichereinrichtung
DE102005053294B4 (de) Schaltungsanordnung zur zeitlichen Verzögerung von Lesedaten, Halbleiterspeicherschaltung und Verfahren
DE3333974A1 (de) Dynamischer mos-speicher mit wahlfreiem zugriff
DE102007034304B4 (de) Unterstützte Taktschaltung für Halbleiterspeicher
DE10238760A1 (de) Halbleiterspeichervorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE

8364 No opposition during term of opposition
R081 Change of applicant/patentee

Owner name: INFINEON TECHNOLOGIES AG, DE

Free format text: FORMER OWNER: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE

Owner name: POLARIS INNOVATIONS LTD., IE

Free format text: FORMER OWNER: QIMONDA AG, 81739 MUENCHEN, DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: POLARIS INNOVATIONS LTD., IE

Free format text: FORMER OWNER: INFINEON TECHNOLOGIES AG, 85579 NEUBIBERG, DE

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee